AGNES -
Lehre und Prüfung online
Studierende in Vorlesung
Anmelden

Einf. i.d. Elektronenmikroskopie - Detailseite

  • Funktionen:
  • Online Belegung noch nicht möglich oder bereits abgeschlossen
Grunddaten
Veranstaltungsart Vorlesung Veranstaltungsnummer 331520225185
Semester WiSe 2022/23 SWS 2
Rhythmus jedes Semester Moodle-Link http://moodle.hu-berlin.de/course/view.php?id=116172
Veranstaltungsstatus Freigegeben für Vorlesungsverzeichnis  Freigegeben  Sprache englisch
Weitere Links LV im Stundenplan des Instituts f. Physik
Belegungsfrist - Eine Belegung ist online erforderlich
Veranstaltungsformat Blended Course

Termine

Gruppe 1
Tag Zeit Rhythmus Dauer Raum Raum-
plan
Lehrperson Status Bemerkung fällt aus am Max. Teilnehmer/-innen
Mo. 11:00 bis 13:00 wöch 17.10.2022 bis 13.02.2023  Lise Meitner-Haus - 2.101 Newtonstraße 15 (NEW15) - (Unterrichtsraum) Hetaba ,
Schmidt
findet statt     1000
Gruppe 1:
Zur Zeit keine Belegung möglich


Zugeordnete Person
Zugeordnete Person Zuständigkeit
Schmidt, Franz
Studiengänge
Abschluss Studiengang LP Semester
Master of Science  Optical Sciences Hauptfach ( Vertiefung: kein LA; POVersion: 2015 )     1 - 1 
Master of Science  Physik Hauptfach ( Vertiefung: kein LA; POVersion: 2016 )     1 - 2 
Zuordnung zu Einrichtungen
Einrichtung
Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät, Institut für Physik
Inhalt
Kommentar Lern- und Qualifikationsziele
Die Lehrveranstaltung soll die Funktionsweise moderner Elektronenmikroskope und die Techniken der analytischen Elektronenmikroskopie vermitteln. Dabei sollen folgende zentrale Fragen behandelt werden:

1.) Wieso wird Elektronenmikroskopie betrieben?
2.) Wie funktioniert ein modernes Elektronenmikroskop?
3.) Welche Arten der Elektron-Materie-Wechselwirkung gibt es und wie werden diese beschrieben?
4.) Welche Informationen können mit Hilfe von Elektronenmikroskopie gewonnen werden?
5.) Wie kann eine Elektronenstrahl als Superkontinuum-Lichtquelle eingesetzt werden?

Es werden unterschiedliche abbildende und analytische Methoden zur Untersuchung und Charakterisierung der Struktur und der elektronischen Eigenschaften verschiedener Materialien behandelt. Die Studierenden lernen die Vor- und Nachteile sowie Anforderungen der unterschiedlichen Methoden kennen.
Voraussetzungen
Grundkenntnisse der Quantenmechanik und Beugungstheorie,
Grundkenntnisse der Festkörperphysik und Elektrodynamik
Gliederung / Themen / Inhalte
-Einführung
-Elektronenoptik
-Aufbau und Komponenten von Transmissionselektronenmikroskopen
-Wechselwirkung Elektronen und Materie
-Bildgebung und Beugung in Elektronenmikroskopen
-Spektroskopie in Elektronenmikroskopen
-Nanooptik mittles schneller Elektronen
Literatur D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission Electron Microscopy. Springer New York 2009, ISBN 978-0-387-76500-6
B. Fultz, J. Howe. Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials. Springer Berlin 2013, ISBN 978-3-642-29760-1
L. Reimer, H. Kohl. Transmission Electron Microscopy. Springer New York 2008, ISBN 978-0-387-40093-8
R.F. Egerton. Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope. Springer New York 2011, ISBN 978-1-4419-9582-7
Bemerkung Ansprechpartner
Dr. Franz Schmidt, Fritz-Haber-Institut der Max-Planck-Gesellschaft, Zum Großen Windkanal 2, 12489 Berlin, Tel: +49 30 8413 4413, schmidt@fhi-berlin.mpg.de

Strukturbaum

Keine Einordnung ins Vorlesungsverzeichnis vorhanden. Veranstaltung ist aus dem Semester WiSe 2022/23. Aktuelles Semester: SoSe 2024.
Humboldt-Universität zu Berlin | Unter den Linden 6 | D-10099 Berlin