Inhalt
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Lern- und Qualifikationsziele
Begleitend zur Vorlesung "Einführung in die Elektronenmikroskopie" werden im Praktikum die in der Vorlesung behandelten Techniken praktisch angewendet. Zuerst erlernen die Studierenden, das Elektronenmikroskop zu justieren. Danach werden in der Vorlesung vermittelten Techniken wie Elektronenbeugung, Abbildung im Amplituden- und Phasenkontrast, Raster-TEM Hell- und Dunkelfeldabbildung sowie spektroskopische Methoden praktisch angewendet. Dafür steht das Transmissionselektronenmikroskop TEM/STEM JEOL JEM2200FS zur Verfügung.
Voraussetzungen
Teilnahme am Vorlesungskurs - 4020210178 Einführung in die Elektronenmikroskopie.
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D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission electron microscopy. Plenum Press, New York 1996; ISBN 0-306-45324-X
B. Fultz, J.M. Howe. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. 2nd edition, Springer 2002; ISBN3-540-43764-9
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| Bemerkung |
Ansprechpartner
Dr. Holm Kirmse, NEW15, R. 3'308, Tel. 7641
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