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Kurspraktikum Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen - Detailseite

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  • Online Belegung noch nicht möglich oder bereits abgeschlossen
Grunddaten
Veranstaltungsart Praktikum Veranstaltungsnummer 331520205184
Semester WiSe 2020/21 SWS 4
Rhythmus jedes Semester Moodle-Link  
Veranstaltungsstatus Freigegeben für Vorlesungsverzeichnis  Freigegeben  Sprache deutsch
Weitere Links LV im Stundenplan des Instituts f. Physik
Belegungsfrist - Eine Belegung ist online erforderlich
Wichtige Änderungen je nach Vorgabe: Präsenz-PR oder digitale Übungen
Veranstaltungsformat Blended Course

Termine

Gruppe 1
Tag Zeit Rhythmus Dauer Raum Gebäude Raum-
plan		 Lehrperson Status Bemerkung fällt aus am Max. Teilnehmer/-innen
Mo. 15:00 bis 19:00 wöch 02.11.2020 bis 22.02.2021  0.516 (Labor)
Stockwerk: EG

Lise Meitner-Haus - Newtonstraße 15 (NEW15)

Außenbereich nutzbar Innenbereich eingeschränkt nutzbar Parkplatz vorhanden Leitsystem im Außenbereich Barrierearmes WC vorhanden Barrierearme Anreise mit ÖPNV möglich 		Kirmse findet statt     1000
Gruppe 1:
Zur Zeit keine Belegung möglich

Studiengänge
Abschluss Studiengang LP Semester
Master of Science  Optical Sciences Hauptfach ( Vertiefung: kein LA; POVersion: 2015 )     1 - 2 
Master of Science  Physik Hauptfach ( Vertiefung: kein LA; POVersion: 2016 )     1 - 2 
Zuordnung zu Einrichtungen
Einrichtung
Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät, Institut für Physik
Inhalt
Kommentar Lern- und Qualifikationsziele
Begleitend zur Vorlesung 40537 - Einführung in die Elektronenmikroskopie - werden im Praktikum die in der Vorlesung behandelten Techniken praktisch angewendet. Dafür stehen zwei Transmissionselektronenmikroskope zur Verfügung: (TEM/STEM Hitachi H-8110 für konventionelle TEM-Untersuchungen und TEM/STEM JEOL JEM2200FS für spektroskopische TEM-Untersuchungen).
Voraussetzungen
Teilnahme am Vorlesungskurs - 40537 Einführung in die Elektronenmikroskopie.
Literatur D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission electron microscopy. Plenum Press, New York 1996; ISBN 0-306-45324-X
B. Fultz, J.M. Howe. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. 2nd edition, Springer 2002; ISBN3-540-43764-9
Bemerkung Ansprechpartner
Dr. Holm Kirmse, NEW15, R. 3'308, Tel. 7641

Strukturbaum

Keine Einordnung ins Vorlesungsverzeichnis vorhanden. Veranstaltung ist aus dem Semester WiSe 2020/21. Aktuelles Semester: SoSe 2024.
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