Inhalt
| Kommentar |
Lern- und Qualifikationsziele
Begleitend zur Vorlesung 4020190133 - Einführung in die Elektronenmikroskopie - werden im Praktikum die in der Vorlesung behandelten Techniken praktisch angewendet. Nach der notwendigen Justage der Elektronenoptik werden unter andrem die Elektronenbeugung und die Amplituden- und Phasenkontrastabbildung erlernt. Rastertransmissionselektronenmikroskopie sowie spektroskopische Verfahren werden demonstriert.
Voraussetzungen
Teilnahme am Vorlesungskurs - 40537 Einführung in die Elektronenmikroskopie.
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| Literatur |
D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission electron microscopy. Plenum Press, New York 1996; ISBN 0-306-45324-X
B. Fultz, J.M. Howe. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. 2nd edition, Springer 2002; ISBN3-540-43764-9
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| Bemerkung |
Ansprechpartner
Dr. Holm Kirmse, NEW15, R. 3'308, Tel. 7641
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| Prüfung |
Siehe Vorlesung Einführung in die Elektronenmikroskopie |
