Inhalt
Kommentar |
Lern- und Qualifikationsziele Begleitend zur Vorlesung 40537 - Einführung in die Elektronenmikroskopie - werden im Praktikum die in der Vorlesung behandelten Techniken praktisch angewendet. Dafür stehen zwei Transmissionselektronenmikroskope zur Verfügung: (TEM/STEM Hitachi H-8110 für konventionelle TEM-Untersuchungen und TEM/STEM JEOL JEM2200FS für spektroskopische TEM-Untersuchungen). Voraussetzungen Teilnahme am Vorlesungskurs - 40537 Einführung in die Elektronenmikroskopie.
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Literatur |
D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission electron microscopy. Plenum Press, New York 1996; ISBN 0-306-45324-X B. Fultz, J.M. Howe. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. 2nd edition, Springer 2002; ISBN3-540-43764-9
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Bemerkung |
Ansprechpartner Dr. Holm Kirmse, NEW15, R. 3'308, Tel. 7641
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