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Lern- und Qualifikationsziele
Die modernen Methoden der Elektronenmikroskopie, speziell der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM), erlauben die Aufklärung von Struktur/Eigenschaftsbeziehungen von modernen Materialien und Werkstoffen auf atomarer Skala. Die Notwendigkeit einer Analyse von Struktur und chemischer Zusammensetzung im nm-Bereich ist vor allem durch die weitere Reduzierung der Dimensionen der Materialsysteme (z.B. optische und elektronische Bauelemente, Nanomaterialsysteme) wichtig geworden.
Das Ziel der Veranstaltung ist es, die Studierenden mit den Techniken der modernen Elektronenmikroskopie vertraut zu machen. Vor allem werden im Kurs die vielfältigen Möglichkeiten der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und der Rasterelektronenmikroskopie (REM) behandelt. Schwerpunkte bilden sowohl die wichtigsten Elektronenbeugungstechniken als auch verschiedene abbildende Verfahren (Beugungskontrast Abbildung, Hochauflösende TEM, High Angle Annular Dark-Field (HAADF) Abbildung, energiegefilterte TEM (EFTEM), Elektronenholographie, Elektronentomographie) und die spektroskopischen Techniken (Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS) und energie-dispersive Röntgenspektroskopie (EDXS)).
Voraussetzungen
Grundkenntnisse der Röntgenbeugungstheorie, Grundkenntnisse der Quantenmechanik
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