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Einf.i.d. Elektronenmikroskopie - Detailseite

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Grunddaten
Veranstaltungsart Vorlesung Veranstaltungsnummer 331520200146
Semester SoSe 2020 SWS 2
Rhythmus jedes Semester Moodle-Link https://moodle.hu-berlin.de/course/view.php?id=94318
Veranstaltungsstatus Freigegeben für Vorlesungsverzeichnis  Freigegeben  Sprache deutsch
Weitere Links LV im Stundenplan des Instituts f. Physik
Belegungsfrist - Eine Belegung ist online erforderlich
Veranstaltungsformat Digital

Termine

Gruppe 1
Tag Zeit Rhythmus Dauer Raum Raum-
plan
Lehrperson Status Bemerkung fällt aus am Max. Teilnehmer
Mo. 09:00 bis 11:00 wöch 13.04.2020 bis 13.07.2020  Walther Nernst-Haus (LCP) - 2.05 Newtonstraße 14 (NEW14) - (Sammlungsraum) Hetaba findet statt     1000
Gruppe 1:
Zur Zeit keine Belegung möglich

Studiengänge
Abschluss Studiengang LP Semester
Master of Science  Optical Sciences Hauptfach ( Vertiefung: kein LA; POVersion: 2015 )     1 - 2 
Master of Science  Physik Hauptfach ( Vertiefung: kein LA; POVersion: 2016 )     1 - 2 
Zuordnung zu Einrichtungen
Einrichtung
Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät, Institut für Physik
Inhalt
Kommentar Lern- und Qualifikationsziele
Die Lehrveranstaltung soll die Funktionsweise moderner Elektronenmikroskope und die Techniken der analytischen Elektronenmikroskopie vermitteln. Es werden unterschiedliche abbildende und analytische Methoden zur Untersuchung und charakterisierung der Struktur und der elektronischen Eigenschaften verschiedener Materialien behandelt.
Die Studierenden lernen die Vor- und Nachteile sowie Anforderungen der unterschiedlichen Methoden kennen.
Voraussetzungen
Grundkenntnisse der Quantenmechanik und Beugungstheorie,
Grundkenntnisse der Festkörperphysik und Elektrodynamik
Gliederung / Themen / Inhalte
Einführung
Elektronenoptik
Wechselwirkung Elektronen und Materie
Rasterlektronenmikroskopie
Transmissionselektronenmikroskopie
Spektroskopie
Simulationsmethoden
Anwendungen
Literatur D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission Electron Microscopy. Springer New York 2009, ISBN 978-0-387-76500-6
B. Fultz, J. Howe. Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials. Springer Berlin 2013, ISBN 978-3-642-29760-1
L. Reimer, H. Kohl. Transmission Electron Microscopy. Springer New York 2008, ISBN 978-0-387-40093-8
R.F. Egerton. Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope. Springer New York 2011, ISBN 978-1-4419-9582-7
Bemerkung Ansprechpartner
Dr. Walid Hetaba, FHI-Berlin, Faradayweg 4-6, 14195 Berlin, Tel.: 030/8413-4412, hetaba@physik.hu-berlin.de

Strukturbaum

Keine Einordnung ins Vorlesungsverzeichnis vorhanden. Veranstaltung ist aus dem Semester SoSe 2020. Aktuelles Semester: WiSe 2020/21.
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