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Einf.i.d. Elektronenmikroskopie - Detailseite

Grunddaten
Veranstaltungsart Vorlesung Veranstaltungsnummer 331520195133
Semester WiSe 2019/20 SWS 2
Rhythmus jedes Semester Moodle-Link  
Veranstaltungsstatus Freigegeben für Vorlesungsverzeichnis  Freigegeben  Sprache deutsch
Weitere Links LV im Stundenplan des Instituts f. Physik
Belegungsfrist - Eine Belegung ist online erforderlich Zentrale Frist    01.07.2019 - 09.10.2019    aktuell

Termine

Gruppe 1 iCalendar Export iCalendar Export
  Tag Zeit Rhythmus Dauer Raum Raum-
plan
Lehrperson Status Bemerkung fällt aus am Max. Teilnehmer
iCalendar Export Mi. 15:00 bis 17:00 wöch 16.10.2019 bis 12.02.2020 
Einzeltermine anzeigen
Walther Nernst-Haus (LCP) - 2.05 Newtonstraße 14 (NEW14) - (Sammlungsraum) Hetaba findet statt     1000
Gruppe 1:

Studiengänge
Abschluss Studiengang LP Semester
Master of Science  Optical Sciences Hauptfach ( Vertiefung: kein LA; POVersion: 2015 )     1 - 1 
Master of Science  Physik Hauptfach ( Vertiefung: kein LA; POVersion: 2016 )     1 - 2 
Zuordnung zu Einrichtungen
Einrichtung
Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät, Institut für Physik
Inhalt
Kommentar Lern- und Qualifikationsziele
Die Lehrveranstaltung soll die Funktionsweise moderner Elektronenmikroskope und die Techniken der analytischen Elektronenmikroskopie vermitteln. Es werden unterschiedliche abbildende und analytische Methoden zur Untersuchung und charakterisierung der Struktur und der elektronischen Eigenschaften verschiedener Materialien behandelt.
Die Studierenden lernen die Vor- und Nachteile sowie Anforderungen der unterschiedlichen Methoden kennen.
Voraussetzungen
Grundkenntnisse der Quantenmechanik und Beugungstheorie,
Grundkenntnisse der Festkörperphysik und Elektrodynamik
Gliederung / Themen / Inhalte
Einführung
Elektronenoptik
Wechselwirkung Elektronen und Materie
Rasterlektronenmikroskopie
Transmissionselektronenmikroskopie
Spektroskopie
Simulationsmethoden
Anwendungen
Literatur D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission Electron Microscopy. Springer New York 2009, ISBN 978-0-387-76500-6
B. Fultz, J. Howe. Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials. Springer Berlin 2013, ISBN 978-3-642-29760-1
L. Reimer, H. Kohl. Transmission Electron Microscopy. Springer New York 2008, ISBN 978-0-387-40093-8
R.F. Egerton. Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope. Springer New York 2011, ISBN 978-1-4419-9582-7
Bemerkung Ansprechpartner
Dr. Walid Hetaba, FHI-Berlin, Faradayweg 4-6, 14195 Berlin, Tel.: 030/8413-4412, hetaba@physik.hu-berlin.de

Strukturbaum

Die Veranstaltung wurde 2 mal im Vorlesungsverzeichnis WiSe 2019/20 gefunden:

Humboldt-Universität zu Berlin | Unter den Linden 6 | D-10099 Berlin