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Einf.i.d. Elektronenmikroskopie - Detailseite

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Grunddaten
Veranstaltungsart Vorlesung Veranstaltungsnummer 3315486
Semester WiSe 2017/18 SWS 2
Rhythmus jedes Semester Moodle-Link  
Veranstaltungsstatus Freigegeben für Vorlesungsverzeichnis  Freigegeben  Sprache deutsch
Weitere Links LV im Stundenplan des Instituts f. Physik
Belegungsfrist Es findet keine Online-Belegung über AGNES statt!

Termine

Gruppe 1 iCalendar Export iCalendar Export
  Tag Zeit Rhythmus Dauer Raum Raum-
plan
Lehrperson Status Bemerkung fällt aus am Max. Teilnehmer
iCalendar Export Mi. 15:00 bis 17:00 wöch 18.10.2017 bis 14.02.2018 
Einzeltermine anzeigen
Walther Nernst-Haus (LCP) - 2.05 Newtonstraße 14 (NEW14) - (Sammlungsraum) Kirmse ,
Mogilatenko
findet statt     1000
Gruppe 1:
Zur Zeit keine Belegung möglich

Studiengänge
Abschluss Studiengang LP Semester
Master of Science  Optical Sciences Hauptfach ( Vertiefung: kein LA; POVersion: 2015 )     1 - 3 
Master of Science  Physik Hauptfach ( POVersion: 2010 )     1 - 3 
Master of Science  Physik Hauptfach ( Vertiefung: kein LA; POVersion: 2016 )     1 - 3 
Zuordnung zu Einrichtungen
Einrichtung
Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät, Institut für Physik
Inhalt
Kommentar Lern- und Qualifikationsziele
Die modernen Methoden der Elektronenmikroskopie, speziell der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM), erlauben die Aufklärung von Struktur/Eigenschaftsbeziehungen von modernen Materialien und Werkstoffen auf atomarer Skala. Die Notwendigkeit einer Analyse von Struktur und chemischer Zusammensetzung im nm-Bereich ist vor allem durch die weitere Reduzierung der Dimensionen der Materialsysteme (z.B. optische und elektronische Bauelemente, Nanomaterialsysteme) wichtig geworden.
Das Ziel der Veranstaltung ist es, die Studierenden mit den Techniken der modernen Elektronenmikroskopie vertraut zu machen. Vor allem werden im Kurs die vielfältigen Möglichkeiten der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und der Rasterelektronenmikroskopie (REM) behandelt. Schwerpunkte bilden sowohl die wichtigsten Elektronenbeugungstechniken als auch verschiedene abbildende Verfahren (Beugungskontrast Abbildung, Hochauflösende TEM, High Angle Annular Dark-Field (HAADF) Abbildung, energiegefilterte TEM (EFTEM), Elektronenholographie, Elektronentomographie) und die spektroskopischen Techniken (Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS) und energie-dispersive Röntgenspektroskopie (EDXS)).
Voraussetzungen
Grundkenntnisse der Röntgenbeugungstheorie, Grundkenntnisse der Quantenmechanik
Literatur D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission electron microscopy. Plenum Press, New York 1996; ISBN 0-306-45324-X
B. Fultz, J.M. Howe. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials. 2nd edition, Springer 2002; ISBN3-540-43764-9
Bemerkung Ansprechpartner
Dr. Anna Mogilatenko, NEW15 3'306

Strukturbaum

Keine Einordnung ins Vorlesungsverzeichnis vorhanden. Veranstaltung ist aus dem Semester WiSe 2017/18. Aktuelles Semester: WiSe 2019/20.
Humboldt-Universität zu Berlin | Unter den Linden 6 | D-10099 Berlin